> 狂贺！宇田控制科技获取中华民国「露点传感器的测试系统」专利证书

狂贺！宇田控制科技获取中华民国「露点传感器的测试系统」专利证书


宇田控制科技自成立以来，专精于量测领域，以独立专业的研发及生产制造团队，不断精进量测技术，到目前为止，公司已拥有多项专利，如传送器快速连接座、盘面显示器及其环保、拆装便利的固定构造及湿度传送器的校正方法等，更于今年7月获取中华民国「露点传感器的测试系统」专利证书，专利编号：I666453，改良测试系统提供露点传感器稳定的测试环境，可同时应用于品质检验及校正服务。

宇田校正实验室通过国际实验室联盟ILAC及TAF认可，露点校正实验室校正能量可达：温度-80 … +60℃；最小不确定度0.25 … 1.1℃，具有极低的校正不确定性、可快速重复测试、适用于各类露点仪器，不仅为宇田引以为傲的核心露点传感器产品持续提高品质，更提供客户高品质量测及校正服务。